TSI:n laitteet mittaavat hiukkaskokojaukaumaa oheisen taulukon mukaisesti. SMPS laitteistolla pystytään määrittelemään kokojaukauma aina 1 mikrometriin saakka ja hiukkaskoon alaraja määräytyy valitun CPC laitteen ominaisuuksien mukaan. APS laitteella mitataan reaaliaikaisesti hieman suurempia hiukkasia aina 20 mikrometrin kokoon. FMPS laitteisto pystyy mittaamaan reaaliaikaisesti hiukkasia 5,6 nm ja 560 nm väliltä 32 kanavan erottelukyvyllä.